Yükseköğretim Kurulu (YÖK) Başkanı Prof. Dr. Erol Özvar, üst düzey kamu görevlilerine ait e-imzaların kullanılarak sahte diploma hazırlandığı iddialarına ilişkin devam eden soruşturma hakkında açıklamalarda bulundu. Soruşturmada 400 akademisyenin şüpheli olarak yer aldığı, 65 kişi hakkında ise 5 ila 50 yıl arasında değişen hapis cezalarının talep edildiği bildirildi.
Türkiye gazetesine konuşan Özvar, konunun son derece ciddi olduğunu vurgulayarak, “Hem YÖK hem de ilgili üniversiteler bu konuda ayrı ayrı soruşturmalar yürütecek. Dün itibarıyla üniversitelere gerekli işlemlerin başlatılması için resmi yazı gönderildi” dedi.
Sahte diplomaların önüne geçilmesi ve cezai yaptırımların caydırıcı hale getirilmesi için yasal düzenleme gerektiğini belirten Özvar, “Bu tür olayların tekrar yaşanmaması adına yasal boşlukların giderilmesi büyük önem taşıyor” diye vurguladı.
(EMK)
